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    dcterms:description "Resolución estructural, análisis cuantitativo y caracterización microestructural de materiales mediante difractometría de rayos X (DRX). Desarrollo de nuevos algoritmos para análisis de materiales mediante DRX. Caracterización electrica de materiales. Análisis de superficies, láminas delgadas y recubrimientos. Análisis químico elemental, espectroscopías diversas, microscopía óptica y electrónica, etc. Análisis de tensiones y deformaciones mediante simulación numérica (elementos finitos). Simulación ab-initio de sistemas físicos. Análisis de fallos en materiales.  ";
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