@prefix config: . @prefix meta: . @prefix rdf: . @prefix rdfs: . @prefix xsd: . @prefix owl: . @prefix dc: . @prefix dcmitype: . @prefix dcterms: . @prefix foaf: . @prefix geo: . @prefix om: . @prefix locn: . @prefix schema: . @prefix skos: . @prefix dbpedia: . @prefix p: . @prefix yago: . @prefix units: . @prefix geonames: . @prefix prv: . @prefix prvTypes: . @prefix doap: . @prefix void: . @prefix ir: . @prefix ou: . @prefix teach: . @prefix time: . @prefix datex: . @prefix aiiso: . @prefix vivo: . @prefix bibo: . @prefix fabio: . @prefix vcard: . @prefix swrcfe: . @prefix frapo: . @prefix org: . @prefix ei2a: . @prefix pto: . a bibo:Journal; ou:sjrMejorCuartil "Q1"; dcterms:identifier "2019-6785"; bibo:eissn "2169-3536"; vcard:country-name "United States"; ou:categoriaSJR "Engineering (miscellaneous) (Q1)"; dcterms:publisher "Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc."; bibo:issn "2169-3536"; ou:codigoRevista "2169-3536"; vcard:region "Northern America"; ou:sjr "0.775"^^xsd:Decimal; ou:categoriaSJR "Materials Science (miscellaneous) (Q2)", "Computer Science (miscellaneous) (Q1)"; dcterms:title "IEEE Access"; dcterms:coverage "2013-2020". ou:publicadaEnRevista . ou:publicadaEnRevista . ou:publicadaEnRevista . ou:publicadaEnRevista . ou:publicadaEnRevista . ou:publicadaEnRevista . ou:publicadaEnRevista . ou:publicadaEnRevista . ou:publicadaEnRevista .