En este estudio se ha llevado a cabo un exhaustivo trabajo de preparacióny caracterización microestructural (mediante difracción de Rayos X, SEMy TEM) de cerámicos SIC sinterizados en fase líquida. Se ha realizado unanálisis comparativo de diferentes técnicas de análisis cuantitativo enSiC (Método de Rietveld y Métodos polimorficos de RUSKA y TANAKA). Además,se ha llevado a cabo un análisis riguroso de la influencia de las condicionesde partida y de la atmósfera de sinterización en la evolución microestructuralsubsiguiente. Se ha propuesto un modelo de evolución microestructural queha sido validado experimentalmente, y que abre la posibilidad del diseñode materiales cerámicos basados en SiC con microestructuras a la carta(y, por tanto, con propiedades bien definidas), de gran interés desde elpunto de vista de su procesado industrial.
