@prefix config: . @prefix meta: . @prefix rdf: . @prefix rdfs: . @prefix xsd: . @prefix owl: . @prefix dc: . @prefix dcmitype: . @prefix dcterms: . @prefix foaf: . @prefix geo: . @prefix om: . @prefix locn: . @prefix schema: . @prefix skos: . @prefix dbpedia: . @prefix p: . @prefix yago: . @prefix units: . @prefix geonames: . @prefix prv: . @prefix prvTypes: . @prefix doap: . @prefix void: . @prefix ir: . @prefix ou: . @prefix teach: . @prefix time: . @prefix datex: . @prefix aiiso: . @prefix vivo: . @prefix bibo: . @prefix fabio: . @prefix vcard: . @prefix swrcfe: . @prefix frapo: . @prefix org: . @prefix ei2a: . @prefix pto: . dcterms:contributor "Duque-Carrillo, J.F., Perez-Aloe, R."; ou:urlScopus ; ou:vecesCitado "2"; bibo:page_range "2084-2086"; ou:bibtex "@article{Duque-Carrillo1990,title = {High-bandwidth CMOS test buffer with very small input capacitance},journal = {Electronics Letters},year = {1990},volume = {26},number = {25},pages = {2084-2086},author = {Duque-Carrillo, J.F. and Perez-Aloe, R.}}"; fabio:hasPublicationYear "1990"; ou:urlOrcid ; bibo:issn "0013-5194"; dcterms:title "High-bandwidth CMOS test buffer with very small input capacitance"; vcard:url ; bibo:volume "26"; vivo:identifier "1990-27"; ou:eid "2-s2.0-0025701972"; dcterms:creator "Duque-Carrillo J."; ou:tipoPublicacion "Article"; a ou:Publicacion; bibo:doi "10.1049/el:19901343"; dcterms:publisher "Electronics Letters". ou:tienePublicacion . ou:tienePublicacion .