@prefix config: . @prefix meta: . @prefix rdf: . @prefix rdfs: . @prefix xsd: . @prefix owl: . @prefix dc: . @prefix dcmitype: . @prefix dcterms: . @prefix foaf: . @prefix geo: . @prefix om: . @prefix locn: . @prefix schema: . @prefix skos: . @prefix dbpedia: . @prefix p: . @prefix yago: . @prefix units: . @prefix geonames: . @prefix prv: . @prefix prvTypes: . @prefix doap: . @prefix void: . @prefix ir: . @prefix ou: . @prefix teach: . @prefix time: . @prefix datex: . @prefix aiiso: . @prefix vivo: . @prefix bibo: . @prefix fabio: . @prefix vcard: . @prefix swrcfe: . @prefix frapo: . @prefix org: . @prefix ei2a: . @prefix pto: . bibo:doi "10.1109/mwsym.2009.5165826"; bibo:issn "0149-645X"; ou:tipoPublicacion "Conference Paper"; bibo:isbn "9781424428045"; dcterms:creator "Perez Soler F."; ou:vecesCitado "12"; ou:eid "2-s2.0-77949992512"; bibo:page_range "833-836"; ou:urlScopus ; vivo:identifier "2009-298"; dcterms:contributor "Perez Soler F."; a ou:Publicacion; dcterms:publisher "IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest"; dcterms:created "2009-12-01T00:00:00"^^xsd:dateTime; dcterms:title "Rigorous investigation of RF breakdown effects in high power microstrip passive circuits"; vcard:url ; fabio:hasPublicationYear "2009"; ou:publicadaEnRevista . ou:tienePublicacion .