@prefix config: . @prefix meta: . @prefix rdf: . @prefix rdfs: . @prefix xsd: . @prefix owl: . @prefix dc: . @prefix dcmitype: . @prefix dcterms: . @prefix foaf: . @prefix geo: . @prefix om: . @prefix locn: . @prefix schema: . @prefix skos: . @prefix dbpedia: . @prefix p: . @prefix yago: . @prefix units: . @prefix geonames: . @prefix prv: . @prefix prvTypes: . @prefix doap: . @prefix void: . @prefix ir: . @prefix ou: . @prefix teach: . @prefix time: . @prefix datex: . @prefix aiiso: . @prefix vivo: . @prefix bibo: . @prefix fabio: . @prefix vcard: . @prefix swrcfe: . @prefix frapo: . @prefix org: . @prefix ei2a: . @prefix pto: . dcterms:coverage "1963-2020"; a bibo:Journal; ou:categoriaSJR "Instrumentation (Q2)"; vcard:region "Northern America"; bibo:eissn "1557-9662"; ou:categoriaSJR "Electrical and Electronic Engineering (Q2)"; dcterms:title "IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT"; ou:sjrMejorCuartil "Q2"; bibo:issn "0018-9456"; dcterms:identifier "2009-6971"; ou:codigoRevista "0018-9456"; vcard:country-name "United States"; ou:codigoRevista "1557-9662"; dcterms:publisher "Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc."; ou:sjr "0.419"^^xsd:Decimal. ou:publicadaEnRevista .