TESIS
Métrica De Idoneidad De Ontologías
2002-06-27
Lenguajes Y Arquitectura De Sistemas Informáticos
Ciencia De Los Ordenadores; Ciencias Tecnologicas; Diseño Y Componentes De Sistemas De Informacion; Inteligencia Artificial; Matematicas; Tecnologia De Los Ordenadores
DIRECTORES
Gómez Pérez, Asunción (Director)
TRIBUNAL
Benjamins, V. Richard (Vocal)
Borrajo Millán, Daniel (Vocal)
Fernández López, Mariano (Secretario)
Hernández Núñez Juan María (Vocal)
Pazos Sierra, Juan (Presidente)
DESCRIPCIÓN
Esta Tesis Doctoral propone el método OntoMetric para ayudar a los usuariosa medir la idoneidad de las antologías existentes respecto a las necesidadesde sus sistemas. Las principales aportaciones son:* Identificación de un marco multinivel de 160 características de ontologías,agrupadas en las dimensiones de contenidos, metodologías, lenguajes,entornos y costes. Este marco sirve para representar información deontologías y como esquema para poder compararlas.* Construcción de la ontología Reference Ontology, basada en el marcomultinivel de características, con instancias en las dimensiones del marco.* Elaboración de un método que ofrece una medida cuantitativa a cadauna de las ontologías candidatas que pueden ser incorporadas a un sistema.El método utiliza: el marco multinivel de características, la ReferenceOntolgy y sus instancias, y una adaptación del método de las jerarquíasanalíticas.* Construcción del soporte -- que asiste al método:- Onto Wappers: extraen información de ontologías existentes en servidoresy páginas web de antologías.- Reference Ontology Instances Selector: selecciona las ontologías quecumplen ciertos requisitos indicados por el usuario.- OntoMetric Tool: obtiene, usando una adaptación del método de lasjerarquías analíticas, las medidas de idoneidad para ontologías.